ПИ80 | Пластины интерференционные

  • ПИ80 | Пластины интерференционные
  • Производитель: РФ
  • Артикул: ПИ-25412472
✓ Прибор поверяется (внесен в Госреестр)

Плоские стеклянные пластины ПИ применяются при проверке интерференционными методами притираемости и плоскостности измерительных плоскостей плоскопараллельных концевых мер длины, калибров, измерительных приборов и инструментов.

Технические характеристики

ПИ60 ПИ80 ПИ100 ПИ120
Диаметр, мм 60 ±2 80 ±2 100 ±2 120 ±2
Высота, мм 20 25 25 30
Отклонения рабочих поверхностей от плоскостности, мкм 0,09 0,09 0,09 0,12

В зависимости от назначения устанавливаются два типа плоских сетклянных пластин: нижние и верхние.
Нижние (опорные) пластины применяются для притирания к ним плоскопараллельных концевых мер длины при интерференционных измерениях, а также для поверки плоскостности измерительных поверхностей концевых мер, калибров, измерительных приборов и инструментов.
Верхние пластины применяются для измерения плоскопараллельных концевых мер длины техническим интерференционным методом.

Нижние пластины выпускаются диаметром 60, 80, 100 и 120 мм. В зависимости от диаметра пластины обозначают: ПИ60, ПИ80, ПИ100, ПИ120. Верхние пластины выпускаются только диаметром 60 мм.

Принцип поверки рабочих поверхностей концевых мер длины плоскими стеклянными пластинами основан на явлении интерфернции в тонком воздушном клине, образуемом поверяемыми поверхностями мер и накладываемой на нее плоской стеклянной пластины.


Рекомендуем также

ПМ40 | Пластины для поверки микрометров

Плоскопараллельные стеклянные пластины предназначены для поверки интерференционным методом плоскостности и взаимной параллельности поверхностей микром

ИС-36М | Оптическая линейка

Оптическая линейка ИС-36М предназначается для измерения отклонений от прямолинейности и плоскостности рабочих поверхностей поверочных линеек (ГОСТ 802

ПМ65 | Пластины для поверки микрометров

Плоскопараллельные стеклянные пластины предназначены для поверки интерференционным методом плоскостности и взаимной параллельности поверхностей микром